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X射线荧光分析仪

简要描述:高效功能和高灵敏度的新产品XGT-1700WR保留了和XGT-1000WR相同的系统,而新光学系统则提高了灵敏度。XGT-1700WR支持 WEEE/RoHS, ELV 和中国RoHS。 用X-ray成像显微镜克进行高灵敏度XRF定性和定量分析。XGT-5000WR为WEEE/RoHS, ELV和中国RoHS特别设计,用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高灵敏度测量并带有X射线显微镜功能。

  • 产品型号:XGT-1700WR
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-07-26
  • 访  问  量:262

详细介绍

XGT-1700WR

 

 

分析原理

 

能量色散X射线荧光分析法

 

 

分析元素

 

Si~U(Cd/Pb高精度型)
Na~U(φ1.2 mm/φ3 mm切换方式型)

 

 

检出下限(Cd/Pd)

 

Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm

 

 

样品形状

 

zui大460×360 mm(高150 mm)

 

 

样品室气氛

 

大气

 

 

X射线管

 

靶材

 

Rh

 

 

管电压

 

zui大50 kV

 

 

管电流

 

zui大1 mA

 

 

X射线照射径

 

Φ3 mm
(同时搭载:φ1.2mm )

 

 

检测器

 

高纯硅检测器 XEROPHY

 

 

液氮罐容量

 

3升

 

 

液氮消耗量

 

每日1升以下(不开机时不用)

 

 

光学图像观察

 

倍率 50倍(X射线同轴)

 

 

软件

 

定性分析:自动定性或手动定性

 

 

定量分析:检量线法

照射直径3mm时
基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正

 

 

用户设定功能

 

可以按照用户事先编好的条件,按照程序自动进行分析和定量分析

 

 

 

 

计算机

 

CPU

 

Pentium IV 1.8 GHz 以上

 

 

内存

 

1GB 以上

 

 

硬盘

 

120 GB 以上

 

 

OS

 

Windows XP

 

 

监视器

 

17寸 CRT(任选:17寸  LED)

 

 

打印机

 

彩色喷墨打印机

 

 

周围温度

 

10~35 ℃(性能温度)/ 5~40 ℃(动作温度)

 

 

周围湿度

 

5~31 ℃时温度范围:zui大相対湿度80 %以下
31~40 ℃时温度范围:相対湿度50 %以下

 

 

电源

 

AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz

 

 

消耗电力

 

1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机)

 

 

设备重量

 

约 265 kg(不含桌子、计算机)

 

 

外形尺寸

 

分析单元

 

610(W)×750(D)×500(H)mm

 

 

信号处理单元

 

220(W)×500(D)×480(H)mm

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