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COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪(膜厚計)

简要描述:COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪(膜厚計)

  • 产品型号:COSMOS-1X
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-07-26
  • 访  问  量:190

详细介绍

COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪膜厚計

                                                          ●Windows下中文操作界面
                                                          ●
紧凑小巧,低成本
                                                          ●
解析度0.001μm
                                                          ●
zui小测量面积0.1mm?
                                                          ●
可测量合金层的厚度以及成分比例
                                                          ●
对于多层镀层可测量每一层精确厚度
                                                          ●
可通过X线进行元素光谱分析
                                                          ●
适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业 

各机型规格参数:

机型

手动测量台

测量主体

测量台尺寸(mm

170110

移动量

 Xmm

70

Y(mm)

70

Z(mm)

50

测定物zui大高度(mm

45(可调整)

尺寸(mm

362(W)425(D)486(H)

重量(kg

44.2

样品zui大何重(kg

3

电源

AC100V±10Voption AC115VAC230


仪器特点:

      搭载MS-WINDOWS系统(优越的操作性与高精度测定)与IBM PC个人电脑相容
     
准值器5种孔径内藏式:
         
zui小的准值仪孔径仅0.1 mm,可测定极微小的部品。
             
标准:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。
                    0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
                    0.05
0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
     
小型化设计:占体积小,采购成本低,适用于小型工件。
     
优越的显示功能:能显示测量具体位置,可将照片打印输出。
     
充实测量报告的作成功能:多种统计功能,轻松提供完善的测量报告。
     
自我诊断功能及X线管保养功能:让您时刻了解仪器使用情况,方便保养维护。

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